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簡述粒度粒形分析儀的常見故障相應解決方案

發布時間: 2025-08-21  點擊次數: 89次
   粒度粒形分析儀在日常使用過程中由于操作不當或維護不足,可能會遇到一些故障,影響設備的正常運行和測量精度。了解這些故障及其解決方法,可以幫助您迅速恢復設備功能,確保數據采集的連續性和準確性。本文將詳細介紹粒度粒形分析儀的常見故障及相應的解決方案。
 

 

  一、測量結果異常
 
  問題描述
 
  測量結果顯示的粒徑分布不準確,或與已知標準樣品的結果存在顯著差異。
 
  可能原因
 
  樣品分散不良:如果樣品未能充分分散,顆粒之間容易發生團聚,導致測量結果偏大或出現雙峰現象。
 
  儀器校準失效:長時間未進行校準,儀器可能出現漂移,影響測量精度。
 
  解決方法
 
  優化樣品分散:對于干法分析,調整分散氣體壓力;對于濕法分析,選擇合適的分散介質,并添加適量表面活性劑。必要時,可使用超聲波處理或其他機械攪拌手段增強分散效果。
 
  重新校準儀器:按照制造商提供的校準程序,使用已知粒徑的標準顆粒(如NIST認證的標準粒子)進行校準。定期檢查校準狀態,并根據需要重新校準。
 
  二、光學系統故障
 
  問題描述
 
  屏幕顯示圖像模糊或有陰影,影響顆粒識別和測量結果。
 
  可能原因
 
  鏡頭污染:灰塵、油污等污染物附著在光學鏡頭上,阻礙光線傳輸,導致成像質量下降。
 
  光源老化:激光器或其他光源元件老化,光強度減弱或不穩定,影響測量精度。
 
  解決方法
 
  清潔光學組件:使用專用的光學清潔布或溶劑輕輕擦拭鏡頭表面,去除灰塵和污漬。避免使用粗糙材料或腐蝕性清潔劑,以免劃傷鏡頭。
 
  更換光源:如果光源老化嚴重,應及時更換新的光源元件。定期檢查光源狀態,確保其工作正常。
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